profilometer
Matsushita el., Japonska
| Opis: | Profilometer za merjenje tankih mirkoskopskih vzorcev. |
|---|---|
| Tip: | Tencor Alpha-Step 200 |
| Leto proizvodnje: | None |
| Število primerkov: | 1 |
| Primerki: |
|
| Povezave: |